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符合法绝对测量级联衰变核素放射性活度时,国内外同行测量得到的β和γ道计数率都要进行死时间校正,本文本意是研究短寿命核素高计数率下的相关校正公式,也从数学上严格推导出死时间校正公式和符合道计数率的校正公式,但在研究过程中发现采用双探测器的符合测量中死时间无须校正,深入研究表明:符合法测量原理的概率理论本身决定死时间确实不需要校正,实验上也验证了这一点。