基于模块化的系统可测试性设计

来源 :中国电子学会电路与系统学会第十九届年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:allen3lin
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可测试性设计(DFT)正在成为复杂电子设备的基本属性,讨论了基本模式化的可测试性设计方法,并给出了设计实例.
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