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本文采用直溶法、流气法和完全燃烧法分别对氚靶常温贮存过程中的氚致放射性污染进行了研究，并结合液体闪烁分析仪进行放射性测量。实验结果表明：氚靶常温贮存过程中，氚的释放、扩散以及表面粉化都会导致放射性污染，其污染程度达到102Bq～105Bq量级，污染率达到10-6～10-9量级，与氚靶经过振动、冲击试验后测量得到的掉粉率基本处于同一水平；氚靶中释放出的氚主要来自氚靶表面，新制备的氚靶释放出的氚中以HT为主，随着贮存时间的增长，氚靶表面的氚大部分被氧化成HTO，释放出的氚中HTO的含量逐渐增大，HT含量逐渐减小；由于随着氚靶表面氚的不断释放，释放率将不断降低，释放量逐渐减少，且随着贮存时间的增长，氚靶表面也会逐步被氧化形成一层薄的氧化层而阻止氚靶表面中的氚向外释放和扩散，氚靶常温贮存过程中氚致放射性污染的污染率虽然随着贮存时间的增长有增大趋势，但不会无限制的增大。