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针对控制器类产品提出了一种基于功能分析的BIT设计方法。通过在产品设计初期分析产品功能,确定产品的功能模块划分。对产品功能电路进行故障模式与影响分析,并根据分析结果进行测试点的选择,测试点的选择采用了改进的故障-测试矩阵,解决了复杂模块的故障模式多的问题。根据选择的测试点进行了产品的测试性设计与验证,实现产品的测试性设计指标。经实践证明该设计方法可减少测试性设计的迭代次数。