对于广泛使用的电流型中子探测器,利用加速器稳态中子源对中子灵敏度进行实验刻度的关键难点是实验大厅内的本底屏蔽问题,中子屏蔽体结构复杂、体积庞大、费用昂贵,且屏蔽体本身亦成为散射源。在实验大厅内,散射中子和散射γ的能量低,对于单粒子计数器而言,散射本底可以较容易地通过脉冲幅度甄别方法予以扣除, 但对于电流型探测器,散射本底贡献的电流难以降低,刻度实验的信噪比较差,且由于散射本底的空间分布复杂, 随大厅内环境物质的分布而变化,难以确切测定信噪比,这是因为在测定信噪比的过程中往往不可避免地需要改变环境物质的空间分布。为了提高灵敏度刻度实验结果的精度和可靠性,研究了利用平方反比律分离信号和本底电流的技术,其基本思想是：信号电流随探测器与源之间的距离的变化服从距离平方反比关系,而散射本底电流与环境物质的空间分布有关,一般不服从距离平方反比关系,从而可以通过测量探测器在不同距离处的电流来分离信号和本底。采用这种方法,不需要任何屏蔽体就可较准确地扣除本底,并求出信噪比和灵敏度。