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分析相控阵天线结构变形对电性能的影响,对高性能天线的研制具有重要的意义。基于阵面辐射单元互耦的分析,建立了相控阵天线结构—电磁耦合模型,给出了辐射单元位置误差对相控阵天线电性能的影响分析方法。仿真结结果与全波计算的一致,证明了该方法的有效性和正确性。
基于阵元互耦的相控阵天线结构变形影响分析
【摘 要】
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分析相控阵天线结构变形对电性能的影响,对高性能天线的研制具有重要的意义。基于阵面辐射单元互耦的分析,建立了相控阵天线结构—电磁耦合模型,给出了辐射单元位置误差对相
【机 构】
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南京电子技术研究所,南京210039 西安电子科技大学机电工程学院,西安 710071
【出 处】
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2009年全国天线年会
【发表日期】
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2009年期
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