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随着散裂中子源(CSNS)等大科学装置的建设,在国内对高性能中子探测器的需求不断增加。因此,对高性能,快速响应,低γ本底的新型中子闪烁探测器的研制已成为当务之急。其中,对新型中子闪烁体光输出性能的研究测试是重要工作之一。本工作采用中国科学院上海硅酸盐研究所制作的硼酸钆锂(LGBO)系列晶体样品,通过示波器电荷测量系统对其光产额及发光衰减时间等光输出特性进行测试,并对测试结果进行离线分析,从而为高性能中子探测器的研发做好准备。