发光二极管失效物理的探讨

来源 :第十一届全国LED产业与技术研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：jmzhao8888

【摘要】

：

本文阐述了二个常用的LED器件失效物理模型，采用这些模型对几个LED失效模式和失效机理进行分析，并说明相应的可靠性改善方法，给出LED可靠性试验条件及其可靠性筛选原理。

【作者】

：

【机构】

：

厦门三安电子有限公司(361009),厦门

【出处】

：

第十一届全国LED产业与技术研讨会

【发表日期】

：

2008年3期

【关键词】

：

下载到本地 , 更方便阅读

下载此文赞助VIP

声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架

论文部分内容阅读

其他文献