高速光电耦合器可靠的测试研究

来源 :四川省电子学会电子测量与仪器专委会第十八届电子测试与测量技术专题学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：yatou5004

【摘要】

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很多元器件的技术手册对某些参数或性能不作要求,该参数或性能不合格的元器件在二次筛选中未被剔除,直接影响整机系统的可靠性.为杜绝该现象的发生,本文对高速光电耦合器可靠性测试进行研究,提出一种高速光电耦合器性能参数的可靠性测试方法,提高筛选效率和质量.

【作者】

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【机构】

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贵州航天计量测试技术研究所,贵阳550009

【出处】

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四川省电子学会电子测量与仪器专委会第十八届电子测试与测量技术专题学术年会

【发表日期】

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2017年3期

【关键词】

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