用于电化学微流控芯片技术的高稳定集成Ag/AgCl参比电极新结构

来源 :中国化学会第29届学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:somlist
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  电化学分析技术中,氧化还原电位经常作为分析目标物定性的依据,因此稳定的参比电极是构成电化学分析体系的重要的部分。本文在前人工作[1,2]的基础上,提出了一种高稳定的芯片上集成Ag/AgCl参比电极新结构,利用PDMS墙体将参比电极区域独立于检测区,通过Pt微金属条带以及微纳通道结构连接参比电极和检测区作为类盐桥的结构,并创新的利用高盐的水凝胶结构作为Ag/AgCl参比电极的参比电解质溶液,从而简化芯片结构。文章对PDMS墙体厚度以及微金属条带的材质对于参比电极性能的影响进行了分析,对比考察了本工作新结构的参比电极同商品化参比电极,芯片上“一体式”参比电极的性能和稳定性。我们认为该Ag/AgCl参比电极新结构有助于消除氯离子浓度对于常规芯片上Ag/AgCl参比电极电位的影响,从而提高参比电极的性能以及稳定性,扩大芯片电化学分析的应用范围,且在非抛弃式使用的电化学芯片体系中具有很高的应用价值。
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