随着精确农业的迅速发展,配方施肥已成为广大农作物生产者迫切希望实现的愿望。配方施肥的前提是准确测量土壤成分及植株养分,但是传统检测土壤特性的方法存在复杂、费时、测量成本高等问题。因此,急需一种快速、方便的土壤分析技术来对土壤特性进行评估和精确管理。本文主要介绍了基于光谱分析技术的土壤成分快速分析仪的组成结构及功能,该套分析系统可在400～2500nm 的宽范围内对土壤的光谱特性进行测量。同时阐述了土壤成分的测量原理及测量精度对分析仪的要求,在此基础上通过两个实验,对土壤水分和土壤有机质光谱曲线进行分析研究,初步评价了该系统在实际测量中的重复性与稳定性。⑴选取相同有机质不同水分含量的四个土样,对它们在1000～2500nm 范围内的光谱曲线进行分析,得到与Yoshio Kano[22]等相同的结果,水分在1450nm 和1940nm 处均有强吸收峰,表明系统可以用于今后的相关研究。⑵利用测试系统对8个来自不同环境条件下成土的土壤样本在400～1100nm 范围内进行光谱测量,得到各个土样的反射率曲线,通过对土壤的有机质含量与土壤反射光谱间的相关分析,研究表明二者在560～690nm 波段内的相关性较高,这也取得与前人较一致的结果。同时发现在664nm 附近相关性最强。本系统经过测试和使用,具有操作简便,性能稳定等特点,为土壤成分等项目的快速、方便测量奠定了一定的物质基础。同时,也为今后系统的进一步改进提供了有意义的理论依据和实验数据。