电磁耦合是大型、复杂电子系统不可避免的电磁兼容性问题之一,如何准确计算不同设备间电磁耦合的强度是电磁兼容工程中的一个重要课题。本文从电磁耦合的两大途径即“后门耦合”和“前门耦合”出发,分别研究了屏蔽腔体的孔缝耦合效应和多天线系统天线互耦问题。其中在金属屏蔽腔体表面孔缝耦合特性研究中,不同于大多数已有研究作者分析了电磁波由腔体内→腔体外的耦合情况。讨论了电子设备中几种典型辐射源产生的电磁耦合干扰,在此基础上较为完整地分析了孔缝位置、干扰源位置改变后耦合近场及远场的分布规律。针对有限元方法计算电尺寸差异过大模型所产生的剖分奇异性,本文还提出了“多尺度等效方法”。计算结果表明该方法不仅能有效地避免剖分奇异性,还能大幅度地提高计算效率节省计算机资源。关于天线互耦问题,作者深入分析了天线系统阻抗非理想匹配时天线耦合度的准确计算,根据多端口微波网络理论将失配损耗引入天线耦合度计算中。该耦合度具有更广的运用范围,特别适用于系统电磁兼容背景下天线系统耦合干扰的预估。利用该方法文中计算了包括线天线、微带天线和机载天线间的耦合度,计算结果表明在传统天线耦合度计算中引入天线系统阻抗损耗是十分必要的。