近场测量方法是国内外研究目标散射特性的一个重要方法。该方法具有测试精度高、信息量大、可全天候工作、测试距离近、在室内测量容易实现等优点。本文利用理论分析和计算机模拟相结合的方法对目标散射特性近场测量方法进行了研究，论文的主要工作如下：首先，研究了双站平面近场散射测量的方法，并以无限长理想导体圆柱作为待测目标，对该方法进行了计算机模拟，对散射近场数据进行了加余弦窗的处理，并用遗传算法对窗函数的参数进行了优化，得到了一些有用的结果。计算结果表明，利用基于遗传算法参数优化的余弦窗函数的近场数据处理方法能够有效地减小由于有限扫描面而引起的截断误差。其次，研究了雷达成像的方法，在此基础上建立了一种利用一个频段连续波作为发射信号，对待测目标进行二维转台扫描的成像模型，进而得到目标成像区域场强的二维矩阵，并在此区域进行成像。利用该方法对理想的散射点目标的成像进行了计算机仿真，计算结果表明该成像方法能够很好地反映出目标散射的强弱。最后，通过成像结果提取了目标散射中心的信息，基于二次辐射原理外推出了目标的远场RCS并与理论RCS进行了比较，计算结果证实了该方法具有很高的精度。