H<,2>价壳层激发的快电子碰撞研究

来源 :中国科学技术大学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:chm200630990203
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本论文主要内容是研究了双原子分子电子能量损失谱的解谱方法,这为以后对复杂能量损失谱的解谱工作提供了很好的工具。然后我们用角分辨的快电子能量损失谱仪,研究了H2分子价壳层激发态B1∑+u、C1Пu振动激发的广义振子强度。 在第一章中,首先介绍了快电子能量损失谱方法的基本原理以及光学振子强度、广义振子强度和微分散射截面的物理概念。之后简单介绍了广义振子强度的测量方法和绝对化方法。 在第二章中,介绍了一种新的双原子分子电子能量损失谱的解谱方法,该解谱方法在利用已知的双原子分子光谱信息及理论计算的Franck-Condon(FC)因子的基础上,通过二次函数调整整个电子态振动强度的轮廓,减少了拟合过程中的待定参数个数,降低了对FC因子精确性的要求,提高了拟合的精度和可信度。用Mathematica语言编写了基于以上方法的数据处理程序,在编写软件过程中改进了算法,提高了软件的运行效率。利用该软件处理了氢分子的电子能量损失谱,得到了氢分子不同电子态的振动跃迁的截面信息,所得结果与以前的实验结果符合很好。 在第三章中,利用角分辨的快电子能量损失谱仪,在入射电子能量为2500eV,能量分辨75meV的条件下测量了氢分子散射角度为1.5°-6°(角度间隔0.5°)的电子能量损失谱,研究了氢分子B1E+u、C1Пu电子态振动激发的Franck-Condon因子随动量转移的依赖性及广义振子强度。这里B1∑+u、v’=0-17和C1Пu、v’=0-5的广义振子强度是首次实验测量。作者还将本次实验结果与以前发表的实验结果和理论计算进行了比较。
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