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通常采用示波器和万用表可以初步判断待测芯片引脚的好坏，但一般很难测试芯片的性能指标。在芯片生产过程中，常常需要测试芯片的性能指标是否满足设计要求，为此，论文设计了基于参数测量单元的芯片自动测试系统。论文简要介绍了芯片XD431性能指标的测试要求，给出了以微控制器为核心，PMU为测量单元，继电器阵列为芯片引脚连接的硬件架构，设计了芯片自动测试系统的电路原理图和PCB版图，编程实现了芯片XD431的六项性能指标(参考电压、参考电流、最小电流、关断电流、动态阻抗、电压变化比)的自动测试功能。最后通过实际测试表明论文设计芯片自动测试系统的有效性。