中微子探测及暗物质探测是当代粒子物理学研究的前沿方向之一,宇宙学观测间接而确凿的证明了暗物质的存在。作为目前最为广泛接受的暗物质候选者“弱相互作用重粒子（WIMP）”与普通物质相互作用截面非常小,事例率<1 event/kg/year,因此在中微子探测及暗物质探测实验中对本底有着极高的要求,而氡污染是本底的重要来源。在暗物质探测实验中,氙是一种优秀的暗物质直接探测介质。在液氙里面,核反冲的能量能以光子和电离的电子等形式释放出来,从而可以进行探测。以氙作为探测介质,常用²¹²Pb的β射线常用作低能电子反冲能量刻度,²¹²Pb来源于往氙探测介质中加载的²²⁰Rn,其干扰核素为²²²Rn的子体²¹⁰Pb,因此,对²²⁰Rn源中²²²Rn浓度要求十分苛刻,需要一种测量²²⁰Rn源中²²²Rn浓度的测定方法。同时,在暗物质探测方面,对氡浓度测量设备有着10μBq/m³量级的探测要求,因此,拟使用由极低本底活性炭制成的活性炭除氡富集装置进行除氡及富集,从而提高探测器的灵敏度,因此需要一种低本底的活性炭并对其本底进行测定。根据上述问题,本文分别对拟用于PandaX探测器的²²⁰Rn源和拟用于除氡富集装置的S-H活性炭中的极低浓度²²²Rn进行了测定。对于拟用于PandaX探测器的²²⁰Rn源,本文使用RAD7对高活度²²⁰Rn源中极低²²²Rn含量进行了测定,实验发现除²¹⁶Poα粒子的拖尾现象外,²¹⁸Po与²¹²Poα粒子收集效率的不同也是造成测得²²²Rn浓度偏高的一个原因,并利用延时管道+RAD7联合测量法测得该²²⁰Rn源中²²²Rn/²²⁰Rn活度比上限为6.2×10^-5。对于一种极低本底活性炭—S-H活性炭,本文对活性炭进行清洗后使用升温脱附的方法对S-H活性炭进行了脱附处理,经包装后寄往锦屏地下实验室使用Ge-2探测器对其本底进行了三次测量,通过对拟合得到该活性炭本底的²²²Rn析出率上限为178.6±20.68 mBq/kg;同时,对储存时所用的铝芯复合膜袋的²²²Rn渗透系数进行了测定,得到该铝芯复合膜袋的²²²Rn渗透系数为5.11×10^-1010 cm²/s。