集成电路是当今社会信息化产业的硬件核心,是一个国家高新技术的重点体现,也是其经济发展和国家安全的重要保障。随着摩尔定律的延续,集成电路的规模和设计也越来越复杂,需要可重复使用且可靠的IP库支持,标准单元库是IP库中最基础的一种,它的设计决定了芯片的各项指标参数。本文设计了一种用于测试标准单元库性能的电路,并详细介绍了其设计过程,对SMIC 0.18μm标准单元库的速度、面积、功耗进行了综合评估,并比较了逻辑综合后相同工艺节点下不同版本标准单元之间的性能差异,有效提高了标准单元库的评估效率和评估结果的全面性。文中首先介绍了现有的标准单元库测试方法,突出比较了本文设计电路的优点,然后重点论述了如何使用目前主流的ASIC设计流程完成该电路的设计,其中主要使用了Synopsys公司的EDA工具。在设计过程中使用VCS做RTL级的功能仿真和带延迟的动态仿真;使用Design Compiler进行逻辑综合;使用IC Compiler进行自动布局布线;利用Prime Time来进行静态时序分析;利用Formality进行形式验证。同时本文还设计了测试电路需要用到的时钟信号产生电路及其控制电路,保证了设计的正常工作,最后制定了电路测试计划并分析了流片后电路的测试结果,证明本文设计提出的标准单元库性能测试电路能够正常工作以及整个电路设计的合理性,圆满完成了预期的设计目的。