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近年来,家电产品普及,越来越多的家电产品进入了各个家庭。大多数家电产品中有个不可或缺的零件就是起热保护作用的温度开关。温度开关的质量直接影响着家电产品的性能,温度开关质量不过关,将影响家电产品正常工作,甚至有可能造成重大的经济损失。传统检测温度开关质量的方法效率低,已经严重制约了温度开关产业的发展,这就要求我们探寻新的检测方法。本文首先研究了温度开关的结构、工作原理以及影响温度开关质量的关键因素,分析了已有的检测技术,确定了要检测的参数。同时介绍了燃弧时间理论以及FPGA相关技术,在这些基础上给出了