伴随工业机器视觉检测技术不断发展,各种视觉检测技术也相继成为工业生产中检测环节的首选技术,进而导致对工业磁片检测的要求愈加严苛。目前普遍采用的检测方案为效率较高的双目立体视觉技术,然而二维视觉检测技术在检测精度和计算量上普遍好于三维视觉检测技术。因此针对本文待测磁片特定三维参数,设计一种由二维尺寸测量间接实现三维参数测量的尺寸检测系统对于工业磁片检测将会非常有意义。本文根据工业微型磁片体积等尺寸参数检测的需求,设计实现了一种面向规则磁片的三维尺寸检测系统。在研究了相机标定模型的基础上,采用RAC两步标定法对两个相机分别进行了单目标定,从而确定了真实坐标与像素坐标的转换关系。图像处理部分主要包括图像滤波处理、图像边缘检测处理以及尺寸测量。在研究多种去噪方法的基础上,本文根据待检测磁片相应检测环境产生的噪声干扰,给出了一种针对本文规则磁片图像的混合滤波方法,较好地实现了去噪滤波效果。在图像边缘检测模块中,本文通过分析并比较了几种较为经典的图像边缘检测算法,选择了适宜待测图像边缘提取的边缘检测算子,从而达到获取特征信息的目的。作为尺寸检测系统最关键的环节——尺寸测量部分,本文在研究了Hough变换中规则形状检测的前提下,设计实现了对微型圆柱体磁片上表面半径、侧面与上表面倾斜角、侧面厚度以及体积等尺寸参数的测量功能。本文最终实现了面向规则磁片的三维尺寸检测系统,并对系统稳定性与检测效率等因素进行了适当的重复性试验数据分析。最后,通过对测量结果进行重复性实验数据分析可知,本文的磁片尺寸检测系统能较好地完成毫米级别圆柱形磁片的检测工作。其中,二维尺寸参数(上表面半径、侧面厚度)平均检测精度为7?m,体积尺寸参数平均检测精度为0.007mm3,系统平均检测时间为41ms。