作为保障设备质量的一项主要手段，测试工作是非常重要的，但这项工作并不轻松。如何快速地生成高质量的测试方案，并且保证该方案能够覆盖设备所有的运行状态，一直是该领域重点研究的问题，同样也是长期困扰系统测试人员的一个难题。当前，测试人员主要利用人工的方式来设计测试方案，这就直接导致了系统测试阶段较大的开销，从而也使系统开发总成本增高。另外，测试方案的质量取决于测试方案编写人员的素质，所以信息处理系统的质量和可靠性也不能得到保证。因此，为了提高系统测试的效率和测试工作的可靠性，迫切需要找到一种方法，以便能够快捷生成高质量的测试方案。针对以上问题，本文研究了基于分层有限状态机模型的测试方案生成方法、集合覆盖问题在约简基于有限状态机模型生成的测试方案中的应用。通过将这两个研究应用到测试方案生成系统中，有效的处理了状态爆炸问题和测试方案的冗余问题。在本文中，首先介绍了基于分层有限状态机模型的测试方案生成系统的整体架构，对其中各个模块的功能与联系进行了概要介绍，并概述了基于有限状态机模型的测试方案生成方法；然后详细介绍了详细介绍了测试方案生成模块的结构和基于集合覆盖的测试序列约简方法及其在Wp方法、UIO方法中的应用，并详细描述了测试方案生成模块的实现方法和流程设计；最后，本文还对使用集合覆盖问题进行约简的效果进行了分析。