随着集成电路制造水平和设计能力的提高,系统芯片(System-On-a-Chip, SOC)作为一种高度集成的系统芯片越来越为人们所接受。同时由于SOC芯片采用了IP核复用技术,这就给系统芯片测试带来了一系列问题。　　SOC系统芯片测试综合了测试复用技术和可测性设计方法,测试复用技术的关键是系统芯片SOC测试结构的设计。本文深入研究了IEEE P1500环的测试壳和基于测试总线的测试访问机制,并分析了它们的优化原理。在此基础上,本文应用BFD算法优化测试壳,并取得了较好的优化结果。　　禁忌遗传算法结合了遗传算法的随机搜索能力、并行性和禁忌搜索算法的记忆功能,有效地解决了遗传算法爬山能力差和早熟的问题。本文将禁忌遗传算法应用到SOC测试结构优化中,结合IP核测试调度特点,建立了禁忌遗传算法的数学模型。在对SOC测试结构优化过程中,本文通过对群体中每个染色体的编码,决定IP核在测试访问机制上的分配。通过对禁忌遗传算法中的参数的逐步调整以及对种群的交叉、变异的操作,使SOC测试结构优化的解逐步趋于最优,实现了基于禁忌遗传算法的SOC测试结构优化。　　最后,本文以ITC’02 SOC测试基准电路为验证对象,以减小SOC测试时间为优化目标,进行验证。验证结果表明,与遗传算法以及启发式算法相比,禁忌遗传算法能够较好的减少SOC测试时间。