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纳米级金属薄膜材料具有特殊的性能,在现代科技如微纳光电子器件有着重要应用。该薄膜的特殊性能与其厚度密切相关,因此需要高精度测量厚度参量。目前能够高精度测量纳米级金属薄膜的仪器主要是扫描探针显微镜(SPM),椭圆偏振光检测仪以及台阶轮廓仪等等。但是由于价格昂贵和结构复杂,限制了它们更广泛地应用。为了解决上述问题,研究设计了一种基于表面等离子体波共振(SPR)效应的马赫—增德尔(Mach-Zehnder)干涉相位检测方法并搭建了实验系统。通过检测薄膜厚度变化引起的干涉条纹变化实现对金属薄膜厚度的