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近些年来,随着人们对铁电薄膜性质的广泛和深入研究,人们已经发现铁电薄膜的一些特殊物理性质,特别是铁电薄膜在记忆存取器件上的应用极大的促进了人们对铁电薄膜物理性质进行理论研究的热情。理论研究的主要途径有德文希尔的热力学唯象理论和横场Ising模型。到目前为止,在朗道理论的基础上已经有一些关于铁电薄膜静态和动态物理性质的理论研究,但在研究薄膜的表面和尺寸效应时一般都是引入外推长度的概念来表示薄膜的的表面对自由能函数的影响。本论文将根据GLD唯象理论并利用Landau-Khalatnikov方程对铁电薄膜