汝瓷、官窑青花瓷的科技考古研究

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本文从产地、显微结构、瓷釉颜色和相图等角度,利用比较研究方法,从多个视角分析、探讨了汝瓷析晶分相釉的独到之处。对于青花瓷,本文借助同步辐射X荧光分析法(SRXRF),对宣德官窑青花瓷的黑斑区域进行了面扫描的成分分析;而利用质子激发X荧光分析法(PIXE),对清代官窑青花瓷作了“相对断代分析”,皆获得了颇有价值的信息。在汝瓷的产地分析中,本文采用EDXRF探针,测试了清凉寺出土的古汝瓷和若干钧瓷、现代仿汝瓷等瓷釉和瓷胎的常量元素及微量元素,并利用多元统计中的因子分析方法,处理测试所得的成分数据。分析结果指出,结合因子得分轮廓图和聚类分析图,可将新安钧瓷、古汝瓷和现代仿汝瓷较好地区分开来;金钧和元钧能从釉的微量元素上加以区分;严和店窑青瓷也能和其它样品区分开;而神后钧瓷则难以和新安钧瓷相区分。 对于宣德官窑青花瓷的黑斑区域,用SRXRF作青花瓷的局部面扫描分析,可以很好地反映出元素的分布模式、元素分布之间的相关性,有望揭示青花瓷彩所隐含的“指纹”,即特定元素的含量或比值;
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