庞大的测试数据量对自动测试设备(ATE)的存储性能、I/O通道数和工作频率提出了更高的要求,同时增加了测试应用时间,提高了测试成本。因此,如何降低测试成本成为集成电路测试的一个重要研究课题。本文围绕这个课题提出了两种测试压缩方法。(1)FDR编码方法有效地降低了测试数据量,但其测试集中的无关位全部填充为0,平均每个测试向量检测的故障数目较少,测试质量较低。为了提高测试质量,并进一步提高测试数据压缩率,本文提出了一种利用前一个测试向量的响应填充当前测试向量无关位的测试压缩方法,该方法提高了测试向量中无关位填充的随机性,从而提高了测试集的测试质量。提出方法的压缩效率与测试向量的顺序有关,本文基于最近邻居算法对测试集进行排序,降低测试响应与下一个测试向量之间的距离,对测试响应和测试向量差分处理后再进行FDR编码,从而降低数据量。实验结果表明,对于较大的ISCAS’89电路,与FDR相比,该方法测试质量平均提高了 5.9%,测试压缩率平均提高了 2.5%,而增加的硬件开销仅为一个两输入异或门,可以忽略不计。(2)通过将测试数据广播到相容的扫描单元(扫描树的同一层),扫描树技术有效地降低了测试数据量和测试应用时间。本文将上述提出方法应用到扫描树技术中,提出了一种基于扫描树技术与FDR的测试压缩方法。该方法对扫描树的测试响应和下一个测试向量做差分,再对差分向量进行FDR编码。这里的测试响应和测试向量可由每层的任一个扫描单元的值组成。由于同一层扫描单元的测试向量值相同,而测试响应值可能不同,可以选出与其测试向量值差分距离最小的扫描单元,从而进一步降低测试数据量。实验结果表明,该方法能有效地减少测试数据量,与扫描树结合FDR编码相比,测试压缩率平均提高了 3.02%,测试质量平均提高了 4.9%。