模拟集成电路设计是集成电路设计领域的瓶颈,如何提高模拟集成电路的自动化设计水平是目前亟需解决的问题。本文研究了模拟CMOS单元电路自动综合中的关键问题——设计参数的优化。传统电路优化采用的都是单目标函数优化,为了实现全性能参数空间中的设计搜索,近年来引入了基于遗传算法的多目标优化。由于优化过程中需要大量的目标函数值计算,使得基于仿真的优化方法耗费大量计算时间；而对小尺寸器件,基于方程的优化虽然速度很快,但精度很差。本文主要针对这一问题进行研究。在分析了影响基于方程优化方法精度的因素之后,提出了采用模糊逻辑,建立单个晶体管参数的BSIM3v3级数值模型来避免小尺寸器件电学参数的误差,从而提高基于方程的优化精度的方法；对CMOS两级运放,还提出了解析计算带宽等频域性能指标的改进方法,提高了精度。通过这些工作,使基于方程的优化方法的精度提高到与基于仿真的方法非常接近的程度,为电路多目标优化方法的应用提供了很大方便。文中给出了CMOS两级运放电路的优化实例,结果表明本论文提出的方法是十分有效的。