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Atomic force microscope (AFM)解决了Scanning tunneling microscope (STM)要求待测样品材料是导电的缺陷,能显示样品的图像信息,提供力曲线的测量,对MEMS/NEMS与生物技术的发展具有潜在的推动作用,可以为首都高新技术产业的技术进步提供支持。虽然AFM的成像精度很高,赝像却仍是困扰AFM的常见问题,使得无法准确地认识材料性能。就环境湿度诱导的扫描形貌分辨率降低和赝像等问题,开展系统的理论研究、实验验证和数值模拟,以期从物理、力学机制上建立对