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随着发光二极管(Light Emitting Diode,LED)在信息显示和半导体照明光源等领域得到越来越广泛的应用,其可靠性的重要性也日益凸显。但现有LED可靠性研究成果大都集中在某单一LED模块的失效分析方面,或应用常规加速寿命试验对LED的可靠性进行预测分析。由于LED寿命长、更新换代快,且寿命试验成本高、周期长,因此,快速精准地评估其可靠性,对指导LED光源系统的早期失效筛选和系统可靠性试验验证均具有重要意义。论文从试验系统设计和试验数据处理两个方面,对LED光源系统的加速寿命试验进行研究