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随着芯片设计向深亚微米、纳米工艺技术的推进,超大规模集成电路(VLSI)的设计技术水平越来越高,它的特征尺寸越来越小,集成密度和复杂度越来越大,电路的测试变得越来越困难。测试成为VLSI设计中费用最高、难度最大的一个环节。为了降低测试成本,可测性设计(DFT)已成为VLSI设计中的重要组成部分。DFT的核心思想是在电路设计一开始就考虑测试的设计,设计阶段解决棘手的测试问题。内建自测试(BIST)是可测性设计的一种重要方法。由被测电路自己产生测试向量的自反馈测试方法是一种新的BIST方法。该方法将被测电路的内部节点作为一种可以利用的资源。自反馈测试结构通过寄存器捕获被测电路部分内部节点响应反馈到原始输入端,组成下一个测试向量,使得被测电路在施加了初始向量后,可以自动的生成一个完整的测试集。该方法的研究重点是如何在较短时间内寻找一种最佳的反馈方式,使得由被测电路产生的一组测试向量能够在较短的测试向量长度下达到比较高的故障覆盖率。本文重点研究自反馈测试方法的测试序列搜索算法。在给定测试集的情况下,寻找这样一种反馈方式,使得在施加种子向量后,由被测电路自己生成的测试向量尽可能多的包含在测试集中。如果能找到测试集中的一组最长的测试向量序列,就能求出其对应的反馈方式。本文采用穷举和回溯算法搜索测试向量所有组合以寻求最佳的反馈方式。由于用软件实现自反馈测试生成方法,其速度会受到本质是串行的计算机影响,对于规模较大的电路无法在较短的时间内求得所有的反馈方式。因此,采用硬件化设计具有重要的意义。本文设计了一种基于片上可编程系统的自反馈测试序列搜索系统。系统利用嵌入式开发技术,在XUP Xilinx Virtex-ⅡPro开发系统上实现了一种基于穷举和回溯的测试序列搜索方法。系统在XC2VP30 FPGA芯片上实现了自反馈测试序列搜索的功能验证,测试了ISCAS85 Benchmark中的4个标准电路。实验结果表明该自反馈测试序列搜索算法遍历测试向量所有组合情况后,找到了所有最长的测试向量序列,即找到了所有最佳的反馈方式。该设计方案在资源利用率和速度方面达到了较好的平衡,减少了系统运行时间,达到了预期的设计目的。