CRT和为显示器件中的传统产品,具有高亮度,色彩鲜明,响应快,技术成熟等优点.虽然目前CRT受到其他显示器件的挑战,但只要在技术上能够不断求新,功能不断的多样化和改善,还是具有相当的发展潜力.为了更好的设计CRT,这就需要发展一套精确而有效的测量方法.现在,对于彩色CRT,主要的测量技术包括光点测量、会聚测量、光栅测量和着屏测量等等.光点测量是有助于电子枪的设计.会聚测量和光栅测量是有助于偏转线圈的设计.着屏测量是测量光点的位置,这与荧光屏的粉点有关.通过这些测量,彩色CRT的一些重要特性如光点尺寸/形状、会聚误差、光栅畸变和着屏偏心率等都可以获得.该论文在Matlab、VB6.0和Mint语言的平台上完成和增加了:1.采用同时测量法,完成了光点的会聚测量,即通过模板提取来分离色彩,通过数字图像控制和采集来抓取光点图像,从而实现三种颜色的光点图像修复,最终得到它们的重心位置;2.利用采集到的光点图像,编写了数字图像分析和处理程序,并运用契比雪夫算法,完成了调制传递函数(MTF)的计算;3.和苏州钧信公司合作完成了三维移动支架,并运用Mint语言实现了计算机对三维移动支架的控制;4.在原有图像处理程序的基础上改进了算法,提高了运算速度.在实验中,通过对PHILIPS17"荫罩式CMT管、东莞福地29"高清晰度管、上海永新29"多媒体管等多种显示器件进行的光点测量实验,验证了这套测量系统的实用性,达到了设计要求.该光点测试系统不仅适合研究开发运用目的,同时具有广泛的商业应用前景.