处理器的工艺尺寸逐渐缩小，芯片的集成程度越来越高，处理器的可靠性研究需求趋于急迫。针对软错误对处理器可靠性的影响，需对设计出的处理器进行软错误测试。然而，由于此项测试时间与测试耗费巨大，人们迫切需要研究软错测试的加速方法。通过对通用的应用程序分析，得出软错误对处理器可靠性的影响根据运行的程序不同而有所不同。因此，通过对通用应用程序的剖析，得出程序的剖析信息以及运行时多核处理器发生软错误时的可靠性信息。通过对程序剖析信息与多核处理器发生软错误时可靠性之间关系的分析，得到使多核处理器可靠性较低的程序的剖析特性。利用这些剖析特性，通过二进制代码的合成，控制合成结果带来的多核处理器发生软错误时的可靠性，能产生出具有导致多核处理器低可靠性的程序。将这些具有导致低的发生软错误时可靠性的程序应用于多核处理器软错误测试过程中，将使此测试得到可观察结果即运行出错所等待的时间缩短，起到加速多核CPU软错误测试的目的。通过对SPEC系列以及SPLASH2中的测试集进行剖析，得出此类通用应用不足以导致多核处理器在测试中短时间内运行出错，以观测到实验结果结束测试。而通过控制程序的剖析特性，采用二进制代码合成的方法，能合成出使多核处理器此项测试时间大幅度减少的测试程序集。以此程序集进行测试，将加速多核CPU软错误测试的过程。