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本文简要地介绍了电子设备的电磁兼容(Electromagnetic Compatibility)性问题,说明了研究课题的背景。围绕电磁干扰(Electromagnetic Interference)测试,介绍了论文研究过程中涉及到的主要的电磁兼容测试场地,测试仪器,以及国际与国内主要的电磁兼容标准委员会和它们制定标准的情况。运用电磁场理论和电磁波传播理论研究了三种使用GTEM小室测试结果等效到开阔测试场(Open Area Test Site)测试结果的方法,这三种等效方法是Wilson方法、Lee方法和等效天线系数法。对于每一种等效方法,给出了用于等效计算的公式,明确了在GTEM小室中测试时的测试步骤和测试方法。设计和开发了GTEM小室用于EMI测试的计算软件,它主要用于GTEM小室测试数据的等效计算,是研究论文题目非常重要的基础工具。软件实现了算法选择、模型设置、结果计算、数据抓取、绘制结果、显示误差、配置管理等功能。利用Visual C++6.0的单文档应用程序开发了计算软件,整个软件界面友好,易于操作,极大地方便了测试结果的观察和分析。为了测试类似具有复杂辐射特性的电子设备时三种等效方法的表现,将梳状信号发生器装在一个留有缝隙的金属箱子中,改造为场分布不均匀的EUT(Equipment Under Test)。利用实验室的半电波暗室代替开阔测试场(Open AreaTest Site)测得EUT的标准辐射场强值。按照等效方法的测试要求,利用GTEM小室测得等效计算所需要的小室端口电压数据。通过开发的软件计算出三种方法等效后的辐射场强值,然后与标准辐射场强值作比较,得到等效结果的误差。对于实验中可能存在的误差,论文分为测试环境误差、测试方法误差以及等效算法近似误差这三个方面逐一进行了分析,讨论了如何减小误差源对最终结果的影响。最后,对比了三种等效方法在计算EUT辐射场时的表现。其中Wilson方法与等效天线系数法计算结果较好,Lee方法计算垂直极化电场时的表现也比较好,计算水平极化时误差较大。对于较理想的情况,比如梳状信号发生器,计算的结果要好于改造后的EUT。说明了使用GTEM小室进行EMI测试是完全有可能的,但仍然需要对等效算法做进一步的研究和改进。