基于ARM9及uC/OS-Ⅱ的数字伺服系统测试仪的设计

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【摘要】

：

在研制伺服系统的整个过程中,调试工作是必不可少的一环,它决定了系统研制工作的成败,并最终决定了系统实际达到的技术指标。伺服系统测试仪可以为伺服系统的调试工作提供良好的条件和手段,设计一台独立的、专用的,并且集显示、处理、记录功能于一体的数字伺服系统专用测试仪器非常具有实际意义。本文首先提出了一种基于ARM处理器的数字伺服系统测试仪的设计方案。方案采用一款基于ARM920T核的32位嵌入式处理器S3

【作者】

：

张伟

【机构】

：

南京理工大学

【发表日期】

：

2009年06期

【关键词】

：

数字伺服系统测试 ARM uC/OS-II uC/GUI

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