DC-DC Buck芯片内部的带隙基准电压、参考电压、偏置电流以及振荡器的准确性对芯片的性能有着重要的影响。但是由于半导体制造工艺的影响,芯片内部模块的电压与电流等参数与标准值相比会出现一定的偏差,所以在ATE测试阶段就需要利用trim技术对这些参数进行修调,进而提高芯片的良率。本文在分析了DC-DC Buck芯片的基本结构与工作原理的基础之上,编写芯片测试程序,并重点对trim测试进行研究。对于带隙基准与参考电压修调,提出了一种电阻网络的trim电路结构;对于偏置电流与振荡器修调,提出了多支路的电流镜trim电路结构。首先采用全搜索的算法进行trim测试,即测试每个trim step所对应的值,找出最接近标准值的trim code烧写到芯片内部的EEPROM中,但这种算法的测试时间较长。接下来基于全搜索算法编写了一种新颖的自动修调算法,程序可以保存之前测试的值并自动计算出一个trim table,对于后续芯片的测试只需要测试初始值,根据trim table就可以算出最佳的trim code,并且trim table可以动态更新,保证trim code的准确性。选取850颗DC-DC Buck芯片进行trim测试,并将全搜索算法与自动修调算法的测试数据进行对比,结果表明,采用自动修调算法后,带隙基准、参考电压、偏置电流与振荡器频率的trim测试时间分别节省了61.8%、79.2%、70.8%与65.4%,并且能够找出准确的trim code。最后对自动修调算法trim过的芯片进行温度特性分析,验证了这种改进算法的准确性。因此采用自动修调算法进行trim测试,可以在保证准确度的基础之上,大大减少测试成本。