随着集成电路设计复杂性的提高,测试工作遇到越来越多的困难,此时可测性设计应运而生,并且成为解决测试问题的主要手段,其中尤以内建自测试( Built-In Self-Test,BIST)技术为代表,在集成电路设计中得到广泛的应用。但同时BIST也存在一些缺点,如伪随机测试生成序列长、测试时间长、测试功耗过高等,都严重影响了测试效率。　　针对这种情况,本文结合现有的低功耗技术,从减少测试矢量数量、提高测试矢量相关性即降低跳变率、降低测试功耗以及保证故障覆盖率等方面进行优化设计,故本文提出了基于多目标进化算法优化的低功耗BIST设计方案。该方案主要是设计加权细胞自动机(Cellular Automata,CA)作为BIST矢量产生器,利用多目标进化算法优化的低跳变加权CA结构生成的测试序列,达到精简测试集的效果,并且使测试序列的整体跳变有所减少;然后利用矢量插入式原理,在加权CA生成的矢量中插入若干中间矢量使最终测试集中的测试矢量间的局部跳变也减少,进一步减少功耗。本文的创新点是将基于多目标进化算法的低跳变加权CA作为测试矢量生成器,进行低功耗的BIST设计。　　验证结果表明,该结构在保证故障覆盖率的同时,能够有效的降低各种测试功耗,并缩短了测试序列长度,具有一定的实用性,对电子测试领域的发展有一定的意义。