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本文在本论文中我们针对一个典型的具有电荷条纹序的体系La1 6-xNd0 4SrxCuO4进行了研究。我们采用直流磁控溅射法在LaSrAlO4衬底上生长了La1.6-xNd04SrxCuO4(x=0.08，0.1，0.12，0.14，0.16)外延薄膜，测量了薄膜的电输运性质，讨论了外延应力和磁场对电荷条纹稳定性的影响。此外还包括关于锰氧化物薄膜的Raman光谱的研究结果。综述了高温超导体中的条纹相的研究进展，结合实验和理论讨论，阐述完整的基于条纹相的高温超导机理问题。
讨论在LaSrAlO4(LSAO)和NdGaO3(NGO)衬底上生长La1.6-xNd0.4SrxCuO4(x=0.08，0.1，0.12，0.14，0.16)外延薄膜，利用衬底与薄膜之间的晶格失配，调节应力，从而改变薄膜的微结构和晶格各向异性，研究条纹相的稳定性与超导电性之间的关系。
我们讨论La1.6-xNd0 4SrxCuO4薄膜中的超导涨落现象。采用对数关系ρab∝log(1/T)外推的正常态电阻作为背景电阻，算出薄膜的顺电导。研究了La0 75Ca0 25MnO3薄膜的Raman光谱。发现Jahn-Teller畸变与v1、v2、v3三个振动模式随温度的变化有密切的关联。v3声子峰的异常软化与顺磁-铁磁转变有关系。