测试已经成了集成电路设计制造中不可分割的一部分,而且随着集成电路工艺复杂度和设计复杂度的提高,集成电路的测试变得越来越困难,也变得越来越重要。同时基于IP核复用的系统芯片(SoC)使得测试问题更加突出。本文首先阐述了测试的基本概念,简单地描述了故障检测的基本原理以及现有的一些可测性方法。为了便于SoC内每个IP核的测试,人们给每个IP核之间以及IP核和测试访问机制(TAM)之间制定了一个标准化的接口协议,称之为IEEE P1500协议。本文接下来介绍了P1500测试外壳的结构和其各个部分,包括测试外壳串行端口、指令寄存器、旁路寄存器和边界寄存器。说明了这些模块的时序和设计规则,还介绍了IEEE P1500 SoC测试体系。P1500测试外壳是和IP核内部的测试结构紧密相连的,于是本文又介绍了内部扫描测试技术。然后本文把以上技术应用到一个实际的芯片——MMC HOST控制器中,并且考虑到这个芯片的一些特殊性,对它进行了可测性设计。同时也进行了故障覆盖率的仿真。最后本文对SoC测试技术的未来发展方向进行了展望。