本文主要针对TLS性能的单向测试和仪器自检校等热点问题开展研究，论文的主要工作和取得的成果包括以下几个方面：1、详细介绍了TLS的典型产品，包括其软硬件组成、测量原理及性能指标等。2、在分析各种误差的基础上，给出了多数系统误差的表达函数，总结了部分随机误差的影响规律，为测试中建立合理的误差模型奠定了基准。3、针对仪器加常数、测距精度、测角精度、点位精度、扫描分辨率等进行了单向测试。提出了一种基于三角法的加常数测定方法；提出了基于双频激光干涉仪的距离差法来测试距离精度；提出了基于小垂直角的导线测试法来测试水平角精度；提出了一种直接角度转换法来测试垂直角精度；设计了一个基于大型天线测量的点位精度测试方法；初步研究了扫描分辨率的量化问题。大量的实验数据和成果表明，这些测试方法在VZ-400扫描仪中的应用都是可行的，效果较好，可以为TLS的性能测试提供借鉴。4、初步测试了环境条件变化对测量的影响，结果表明这种影响不显著。5、初步探索了仪器的整体测试，采用基于人工标志的自检校方法，正确估计了所有的扫描参数。实验证明该方法是有效的。6、通过对铜质雕塑建立真彩色三维建模，进一步测试了仪器在复杂环境测量时的建模精度。从点云拼接和建模效果来看，VZ-400扫描仪满足建立高精度模型的要求。