随着电力行业的迅速发展,大量的绝缘子被应用于电力系统的输变电线路中,而劣化绝缘子的存在则直接威胁着电力系统的安全稳定运行。当输电线路绝缘子串存在劣化绝缘子时,绝缘电阻降低,绝缘强度下降,很容易发生闪络,对电网的安全构成严重威胁。因此,亟需对不同状态绝缘子电场进行分析并研究出合适的劣化绝缘子检测方法。本文首先分析了悬式瓷质绝缘子的结构与劣化原理,以及绝缘子串的空间电位分布,并利用有限元仿真软件Infolytica ElecNet建立了悬式瓷质绝缘子串的结构模型进行仿真研究。仿真计算了16片XP-160型绝缘子串与16片XWP-160型绝缘子串的空间电场分布。通过改变绝缘子片的绝缘电阻和相对介电常数来模拟绝缘子片的不同状态,计算出两种型号绝缘子串不同状态下的电场分布后,进一步研究了绝缘子串的电场变化规律。论文研究表明,绝缘子劣化程度(即绝缘电阻)与劣化绝缘子的片数对空间电场的分布有着很大的影响,劣化程度越深,电场畸变越大;劣化绝缘子片数越多,电场畸变也越大。且不同状态下的绝缘子片的电场值变化随着劣化程度的不同(绝缘电阻)成线性变化。最后分析了以泡克尔斯效应为原理的光电电场检测法,并基于上述研究,结合电场分布测量法,研究了光电电场传感器应用于劣化绝缘子检测的可行性,并针对低值绝缘子电场变化不够明显的特点对光电电场传感器进行了优化。