超高场脉冲磁体工作在高电压、大电流、高应力等极端条件下,失效风险极高,将会造成巨大经济损失。而现有磁体失效模型是基于材料强度模型,忽略结构失稳问题,难以解释超高场脉冲磁体经常低于其设计值破坏的现象。这制约了脉冲强磁场技术的发展和磁场强度的提高。已有研究表明,屈曲是导致超高场脉冲磁体失效的主要原因之一,但脉冲磁体中屈曲的形成机理和演变规律尚不明确。为了深入研究脉冲磁体的屈曲机制,本文将脉冲磁体自由分离层等效为薄壁圆柱壳,从圆柱薄壁壳体的屈曲理论出发,对脉冲磁体的自由分离层结构的静态屈曲行为和动态屈曲行为进行了仿真分析研究工作,并开展了相关实验测试。首先阐述了结构屈曲的基本概念和研究内容,然后结合圆柱壳线性屈曲理论和有限元分析的方法,分析了不同几何尺寸、材料构成的圆柱壳的线性屈曲行为。在静态电磁屈曲研究方面,建立了脉冲磁体静态电磁屈曲ANSYS有限元模型,并分析了几何尺寸、螺旋结构、载荷分布对单层线圈静态屈曲行为的影响。为一步深入研究脉冲磁体屈曲行为,考虑冲击载荷的影响,建立了动态屈曲LS-DYNA有限元分析模型,并结合应力波效应与惯性效应,分析了脉宽、几何尺寸、材料参数对单层线圈动态屈曲的影响。最后,在静态/动态有限元电磁屈曲模型的基础上,依据脉冲磁体绕组的几何结构特点,研制了内、中、外三类单层线圈,并开展了电磁屈曲实验研究,实验结果表明脉冲磁体中的确存在屈曲行为,其屈曲行为特点与仿真结果吻合,验证了本文所建立的电磁屈曲仿真模型的正确性。