均匀设计作为试验设计中的一种重要方法,已广泛应用于医疗卫生,生物技术,空间技术以及材料化工等社会生产生活的各个领域。在这个过程中,与均匀设计相关的理论也随之被提出并推广,例如各种均匀性度量的定义,不同均匀性度量准则下的性质讨论,以及均匀设计的构造等方面。均匀设计能够成功地在实际中运用,关键在于用比较灵活的试验次数,找出多个定量因子在某种意义下比较好的水平组合。理论表明,在构造均匀设计时,应尽量选择因子水平数与试验次数相同的设计,这样能够使设计阵在均匀性度量准则下表现更好。正是由于这一点,作为一种有效的数论方法的好格子点法经常被用来构造均匀设计。但是长久以来,好格子点法设计的均匀性性质并没有被深入地分析和研究。本文将首先介绍好格子点法设计的常规构造方法,并分析其可卷型L2-偏差下的性质。另外,我们也在理论上证明了,好格子点设计的可卷型L2-偏差渐近地趋向于已有的偏差下界。在此基础上,对好格子点法设计的常规构造进行改进,分析改进后设计的相关性质,并在理论上证明了,与常规方法构造的好格子点法设计以及现有的构造方法相比,改进后的设计具有更小的可卷型L2-偏差。相关的数值计算也进一步验证了我们的理论结果。