目的:不明原因智力障碍/发育迟缓（intellectual/developmental disabilities,ID/DD）是儿童发育过程中的一种常见疾病,其病因复杂,临床表现多样,致残率高,给患儿及家庭带来沉重的心理与经济负担。此外,该病通常与另外一种小儿常见病——癫痫伴随出现,目前普遍认为二者可能存在共同的发病基础。本研究通过靶向捕获二代测序技术对50例不明原因单纯ID/DD患儿癫痫和智力障碍相关基因测序,以发现部分患儿的致病性基因突变,明确表型-基因型关系。同时,在单基因水平探讨ID/DD与癫痫之间可能存在的共病基础,为远期功能研究及药物治疗靶点选择提供实验依据。方法:收集北京大学第一医院小儿神经科门诊自2005年-2014年就诊的不明原因单纯ID/DD患儿50例,利用靶向捕获二代测序技术对目前研究发现的485个与癫痫及智力障碍相关基因测序。制定筛选标准,筛选出所有可能的致病突变。利用传统Sanger测序法验证,同时明确父母来源,确定患儿的致病突变。结果:在50例不明原因ID/DD患儿中共发现了597个变异,经遗传方式分析及父母来源验证,明确了2个突变为致病突变。患儿3490的致病突变为ZEB2（NM₀01171653）c.2030C>G（p.Ser677*）,该突变导致ZEB2第677位编码丝氨酸的密码子突变为终止密码子,使肽链的合成提前终止,即无义突变;患儿3934的致病突变为GRIN1（NM₀01185091）c.2444G>C（p.Arg815Pro）,该突变导致GRIN1编码的第815位精氨酸变为脯氨酸,Polyphen2软件对突变蛋白的功能预测为功能受损（probably damaged）。这两个突变均为新生突变（de nove）,遗传方式为常染色体显性遗传。经检索UCSC数据库及人类基因突变数据库（HGMD）,发现这两个突变均位于高度保守区域且目前在国际上尚未见报道。结论:本研究明确了2例不明原因单纯ID/DD患儿的基因诊断,为产前诊断及遗传咨询提供依据。丰富了ZEB2及GIRN1的突变谱及表型谱。也为进一步研究癫痫和ID/DD的共病机制奠定了基础。二代测序技术作为一种新型高通量基因检测技术,在检测时间、费用及效率方面均优于传统测序技术,应当广泛应用于不明原因ID/DD及癫痫患儿的病因筛查。