综合孔径微波辐射计具有高分辨率的优良特性,这是以硬件系统复杂度高、信号处理繁琐为代价的。为了解决常规综合孔径微波辐射计硬件复杂度高、信号处理繁琐的问题,各方在降低硬件复杂的角度均提出了有效的解决方案。本文从常规综合孔径成像数字域算法出发,将延时相关算法与常规综合孔径相结合,以期可以在常规综合孔径的硬件基础上,降低其信号处理的繁琐度。本文主要内容如下:(1)以常规综合孔径原理为基础,从实际数据处理的算法角度阐明了延时相关综合孔径算法的基本流程,重点说明了延时相关综合孔径在自相关函数、可见度函数、误差校正等与常规综合孔径算法不同的地方,同时,也对延时相关综合孔径算法“减少了数据间的相关次数”这一优势做出了明确具体的阐述;(2)以数字域实验中遇到的问题为契机,详细说明了单通道信号自相关函数第一零点与基础延时时间的关系,并通过数字域的实验证明其正确性,也解释了天线阵列的排布与延时相加自相关函数值的对应关系;(3)展示了延时相关综合孔径仿真数据和实测数据的一维成像结果,以一维点源实测数据延时相关综合孔径成像为例,对延时相关综合孔径一维成像的数据处理过程进行了详细描述,并对实测数据延时相关成像结果出现的误差进行了一定程度的分析并给出解决办法。由以上内容充分论证了延时相关综合孔径在数字域是可行的并可以达到降低信号处理繁琐度的目的。