基于缺陷层一维光子晶体传感特性的研究

来源 :桂林电子科技大学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zonglijuan
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
对新型传感器的研究已是当今世界的研究热点之一。一个国家传感器技术的高低标志着这个国家科学技术发展水平的高低,它是构成信息产业的三大支柱之一。在信息产业中,传感器是获取信息的重要工具,也是信息检测必不可少的组成部分,信息技术的发展要求传感器向高精度、高可靠性和微型化等方向发展。随着电子技术的高速发展,也带来了一些不可避免的问题,这就促使人们把目光从电子转向光子,光子作为信息的载体比电子更具有优越性。自1987年类比电子晶体概念提出光子晶体的概念以来,迄今对光子晶体的研究已取得了飞速的发展,作为国际界研究的热点,光子晶体不仅具有理论价值,而且具有非常广泛的应用价值。  本文从理论上,利用传输矩阵法分别对不含缺陷层和含有缺陷层的一维光子晶体的光传输特性进行了研究,讨论了介质折射率、介质层厚度和介质层周期数、缺陷层掺杂方式、位置等因素对光子晶体传输特性的影响。根据含有缺陷层的一维光子晶体缺陷模的特性,得出光子晶体透射光波长的变化和光子晶体缺陷层厚度的变化成简单的线性关系,设计了一种基于缺陷层的一维光子晶体结构。  针对设计好的光子晶体结构,提出了制作和实验方案。实验中把光子晶体分三部分,先分别制作了缺陷层两侧的周期部分,在两周期部分中间采用空气间隙作为光子晶体的缺陷层,利用压电陶瓷微位移器控制空气间隙的大小,模拟缺陷层厚度的变化。分别设计实现了基于CCD摄像机和线阵CCD的光谱采集模块。按照设计的实验方案展开实验测试,并对实验结果进行了分析,实验结果表明:基于缺陷层的一维光子晶体透射光中心波长和光子晶体缺陷层厚度之间的变化趋势与理论上的相一致,采用对被测量敏感的材料作为缺陷层,可以得到高灵敏度的光子晶体传感器。文章最后讨论了引入负折射率材料、无序结构和异质结构后光子晶体产生的新传输特性。
其他文献
随着集成电路制造技术的快速发展,测试变得越来越复杂、越来越困难也越来越重要。在SOC的可测性设计中,混合信号电路测试和真速测试是SOC测试遇到的新挑战。  本文通过对SO
随着科技的发展,各种无线电信号充满了世界的空间,人们被迫生活在各种电信号产生的电磁场中,人为的电场对生物体健康的影响越来越受到人类的重视。而细胞作为生物体的基本组
在对未来智能交通的畅想中,可以预见的是随着机器学习和传感技术的发展,无人驾驶车辆将会越来越多的出现在道路上。无人驾驶不再是孤立的问题,而是多领域技术进步基础上的突