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能量色散X荧光分析技术作为一种被应用于众多科研生产领域的分析方法，具有原位、快速、准确、简便等特点并能够进行非破坏性多元素同时分析的优点。但是由于X射线本身的统计涨落和谱线间的干扰，以及受探测仪器能量分辨率和探测效率的影响，分析精度受到很大限制。因此对探测到的仪器谱线进行解析是有必要的，对提高X荧光分析的精度，扩大X荧光分析技术的应用领域有重大意义。本论文来源于国家“863计划”项目“高精度手持式X荧光仪研发”（项目编号：2012AA06180301）。本文系统性的介绍了小波分析的基