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因具有放电电压高、比容量高、资源丰富、价格低廉等优点,V2O5已经成为一种非常有发展前景的锂离子电池正极材料。但结构稳定性差和电导率低制约了其在锂离子电池领域的发展。本文采用溶胶-凝胶法制备掺钴、锰V2O5薄膜电极,利用X-射线衍射法(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、热重-差热法(TG-DTA)和电化学测试等技术,对掺钴、锰V2O5薄膜进行了系统研究。首先, XRD、SEM、TEM和TG-DTA结果表明:掺入Co、Mn之后,V2O5晶体结构并没有发生改变,但构成