随着集成在硅胶片上的知识产权核(Intellectual Property Core,IP)越来越多,集成电路芯片测试所遇到的故障将会变得更复杂,测试所面临的问题也会急剧增加,测试亟待解决几个方面的问题:缩短测试时间,降低测试功耗,减少测试数据量等,现在测试数据压缩技术是集成测试主流研究方法。本论文介绍了系统芯片(System on Chip,SOC)的结构,SOC测试的原理,分类及所面临的挑战,并对一些经典的Huffman编码方案及相容压缩方案作了综述,分别说明这些方案的编码思想,编码实例及寻找方案的不足之处和后续改进方案。本论文基于近似相容性分析,从测试向量的列角度对测试模式相关性大的重新排列在一起;从自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)串行传输数据的特性来看,对相邻测试向量进行最大程度的近似相容压缩,若相邻测试向量不相容组数小于或等于k值则参照前一测试向量压缩,反之直接存储;从分组测试向量间不相容组数来看,分组测试向量之间不相容组数参差不齐,处理编码压缩时会比较复杂且效果不是很好,这里提出寻找相容类,首先构造带权完全无向图,将提取相同的不相容组数子图,采用图着色算法寻找相容类。基于前面三个角度的联想,提出了最大近似相容的分组测试向量相容压缩方法,将测试向量重新排序,使相邻测试向量能达到最大近似相容,且使第i+1个测试向量参照第i个测试向量能够与第i-1个测试向量间接近似相容,这个方法的提出就是想要使测试向量间相邻的能达到最大近似相容,不相邻的能达到间接近似相容,使测试数据集化整体为若干组就能达到很好的压缩效果。本论文是对ISCAS’89标准电路生成的Mintest集,在基于C语言平台编程分析验证测试数据压缩率的,且硬件结构简单,面积开销小,方案可行。