随着各种ARM系列32位微处理和微控制芯片的广泛应用，数字单片机系统功能越来越强，集成度越来越高。为满足这些数字系统的故障检测需求，出现了许多智能故障检测和诊断的方法，然而在将这些方法应用到实际的故障诊断系统中后，遇到了一些难题，其中如何区分并解决多线桥接故障中征兆混淆问题和地址总线故障诊断一直是智能故障诊断系统设计的难题。为解决这一难题，本文深入研究目前国内外最新取得的一些理论成果，如故障检测和紧凑性定理、故障诊断完备性定理和抗误判定理，通过这些研究为本文的撰写提供了坚实的理论依据。 本文作者对一类的测试优化算法：NAAC算法(No Aliasing and Anti-Confounding Algorithm：无误判抗混淆算法)进行深入研究，为弥补其不能很好解决桥接故障的征兆混淆的不足，对NAAC算法进行改进，提出一种自适应二次测试算法。并将其应用于实际的ARM智能故障诊断系统中。采用自适应NAAC算法生成的测试矩阵能够确保无征兆误判，同时还能将大的测试矩阵压缩成小规模的测试矩阵。在其生成的测试矩阵中各PTV互不相同，但都具有相同的权值，而权值可以由故障诊断系统的设计者予以指定。另外，由于32位系统的地址线的增加，地址映射的变化，使得原本就比较困难的地址总线检测难度进一步加大。本文深入研究32位系统地址映射规律，提出一种新的检测算法，通过对测试响应得进一步运算和分析，检测并定位故障错误。实践表明，自适应NAAC算法和新型地址算法生成的测试矩阵具有很高的故障覆盖率。 本文还讨论了ARM内核调试技术，采用VC6.0编制对ARM内核进行控制的