为了在极端环境下对芯片进行高效准确的可靠性试验,本文利用C#编程语言及相应的测试设备与环境设备搭建了 一套多功能专用芯片(MFC)可靠性测试系统。系统针对自主研发的T/R多功能专用芯片的测试需求设计,通过设计FPGA开发板,并配合自主研发的多功能控制芯片实现控制信号的串并转换,能够简单、准确地切换待测芯片工作状态。综合C#、可视化编程技术、VISA(虚拟仪器软件结构)、MYSQL数据库、串口通信技术,实现了仪器一键设置、芯片状态自动切换、参数自动测试、数据自动处理保存与结果分析报告等功能。此外,系统根据微波腔体设计技术设计加工了一款临时封装夹具,该夹具性能优良,对测试数据的影响较小,可以很好地满足极端环境下的可靠性试验。结合测试系统中的辅助测温系统和环境设备,本文对多功能专用芯片进行三温试验、稳态寿命试验、抗辐照试验。经检验,整个测试系统操作简单、测试速度快、结果精确,可支持多功能专用芯片的大部分可靠性试验需求。