集成电路设计过程中,随着电路规模和复杂度的增大,设计故障变得越来越多,因此对于设计故障的测试方法也提出越来越高的要求。自动测试向量生成算法便是其中的一种,它是利用一些算法例如D算法,通路敏化法或者布尔差分法自动产生出能够检测某些故障的测试向量。本论文以布尔可满足性算法作为基础,从下面三个方面对测试向量自动生成算法进行了研究：首先提出并实现了针对组合电路单固定型故障的测试向量生成算法。在该算法中,我们使用了类似于布尔差分法中的思想,将正确电路和错误电路使用异或门组合在一起,并转化为相关的CNF范式,利用SAT求解器寻找测试向量。然后利用组合电路的单固定型测试向量生成算法,求出整个电路的所有故障的测试向量集合,即故障字典。然后,以故障字典为基础,生成一个二叉的故障诊断树,以便于在检测电路中某条线路故障的时候,可以方便的得到对应的测试向量集合。最后提出了对通路时延故障测试向量的自动生成算法,该算法采用与组合电路单固定故障测试向量生成算法类似的思想,但以7值逻辑系统为基础,使得在生成完整的CNF范式时与前边的算法有差异。该算法主要针对鲁棒性和非鲁棒性测试产生测试向量。我们用C语言实现了上面三个算法并以ISCAS系列电路对算法进行了检验,实验结果表明了算法的有效性和可行性。